П.А. Чочиа
Сегментация изображений на основе прослеживания контуров применительно к анализу снимков электронных микросхем
Рассматривается алгоритм сегментации снимков микросхем,
получаемых сканирующим электронным микроскопом. Изображения характеризуются
высоким уровнем шума и наличием двух различных типов границ между наблюдаемыми
объектами. Сегментация осуществляется прослеживанием контуров на границах между
паттернами. Реализуется обнаружение границ первого типа, преобразование границ
второго типа к первому и окончательное прослеживание контуров по объединенному
синтезированному изображению. Обсуждается вопрос удаления ложных контурных линий
и сегментов.